Spettroscopia di fotoemissione a raggi X (XPS)

Diagnostica chimico-fisica, su scala micro e nanometrica, di superfici solide, polveri e di strutture a film sottili multistrato.

Microanalisi, imaging, e depth profiling mediante spettroscopia fotoelettronica (XPS)  monocromatica con capacità di gestione e analisi totalmente automatizzata, elevata resa (decine di analisi/giorno), controllo visuale del posizionamento per la microanalisi, cannone a ioni argon per la rimozione di strati superficiali, cannone elettronico per la riduzione di effetti di caricamento elettrico di materiali isolanti, software e librerie per il riconoscimento automatico della composizione chimica.

Ion Sputtering - Depth Profiling

Rimozione controllata di impurità e/o strati superficiali mediante sputtering.

Analisi Dati

Modellizzazione dei picchi fotoelettronici di alcuni atomi per la determinazione delle possibili configurazioni di legame chimico

Experimental setup video