Offerta Didattica

 

INGEGNERIA ELETTRONICA E INFORMATICA

METODI DI OSSERVAZIONE E MISURE

Classe di corso: L-8 - Ingegneria dell'informazione
AA: 2017/2018
Sedi: MESSINA
SSDTAFtipologiafrequenzamoduli
FIS/01BaseLiberaLiberaNo
CFUCFU LEZCFU LABCFU ESEOREORE LEZORE LABORE ESE
64.501.56036024
Legenda
CFU: n. crediti dell’insegnamento
CFU LEZ: n. cfu di lezione in aula
CFU LAB: n. cfu di laboratorio
CFU ESE: n. cfu di esercitazione
FREQUENZA:Libera/Obbligatoria
MODULI:SI - L'insegnamento prevede la suddivisione in moduli, NO - non sono previsti moduli
ORE: n. ore programmate
ORE LEZ: n. ore programmate di lezione in aula
ORE LAB: n. ore programmate di laboratorio
ORE ESE: n. ore programmate di esercitazione
SSD:sigla del settore scientifico disciplinare dell’insegnamento
TAF:sigla della tipologia di attività formativa
TIPOLOGIA:LEZ - lezioni frontali, ESE - esercitazioni, LAB - laboratorio

Obiettivi Formativi

Fornire elementi di elaborazione statistica dei dati sperimentali. Fornire elementi di teoria e pratica di laboratorio in merito a circuiti lineari contenenti bipoli resistivi, induttivi e capacitivi, introducendo all'uso dei principali strumenti per la misura di grandezze elettriche.

Learning Goals


Metodi didattici

Lezioni frontali di teoria, esercitazioni e pratica di laboratorio.

Teaching Methods


Prerequisiti

Gli studenti devono essere in possesso di nozioni di fisica generale e di analisi matematica.

Prerequisites


Verifiche dell'apprendimento

L'esame consiste di prove di verifica laboratorio da sostenersi durante il corso e di una prova orale conclusiva.

Assessment


Programma del Corso

Elementi di calcolo delle probabilità. Eventi mutuamente esclusivi. Eventi indipendenti Probabilità condizionata. Teorema della probabilità totale. Variabili casuali discrete, continue e miste. Sistemi di variabili casuali. Funzione di distribuzione; Densità di probabilità. Trasformazioni di variabili casuali. Valor medio e varianza di una variabile casuale e di una funzione di variabile casuale. Distribuzione di probabilità condizionata. Correlazione, covarianza e coefficiente di correlazione. Funzione di distribuzione congiunta. Funzione di distribuzione e densità di probabilità condizionata. Distribuzione binomiale. Distribuzione di Poisson. Distribuzione di Gauss. Teorema del limite centrale. Legge dei grandi numeri. Disuguaglianza di Chebyshev. Principio di massima verosimiglianza. Valor medio e deviazione standard empirica. Media pesata. Istogrammi. Test chi-quadro. Principio dei minimi quadrati. Regressione lineare. Errori sistematici e casuali. Stima dell’errore nel caso di misure dirette ed indirette. Propagazione degli errori. Caratteristiche degli strumenti di misura: sensibilità, precisione, finezza, prontezza, intervallo di misura, soglia, portata, risposta dinamica. Analisi dimensionale. Unità di misura del Sistema Internazionale. Campo elettrico, campo magnetico, equazioni di Maxwell. Densità di corrente, legge di Ohm in forma microscopica. Elementi bipolari attivi, passivi e reattivi. Analisi dei circuiti lineari. Strumenti per la misurazione di grandezze elettriche: amperometri, voltmetri ohmmetri. Misurazione di resistenze (ponte di Wheatstone, metodi volt-amperometrici, ohmmetro). Transitori RC ed RL. Filtri passivi del primo ordine. Circuito RLC. Esercitazioni di laboratorio.

Course Syllabus


Testi di riferimento: Note redatte dal docente ed in aggiunta qualunque di livello universitario di Elettromagnetismo ed Elettrotecnica.

Elenco delle unità didattiche costituenti l'insegnamento

METODI DI OSSERVAZIONE E MISURE

Docente: ANTONELLA ARENA

Orario di Ricevimento - ANTONELLA ARENA

GiornoOra inizioOra fineLuogo
Mercoledì 15:00 17:00Laboratorio didattico di elettronica sito al IVI piano del blocco B, plesso docenti.
Giovedì 15:00 17:00Laboratorio didattico di elettronica sito al IVI piano del blocco B, plesso docenti.
Note:
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